高溫老化測(cè)試房廣泛應(yīng)用于電工、電器、儀器、儀表、光電、電子、安防、通信、傳感器、自動(dòng)化、智能卡、工業(yè)控制、精密機(jī)械等行業(yè)，是大型零件、半成品、成品做模擬現(xiàn)實(shí)環(huán)境溫度做試驗(yàn)的理想設(shè)備。

高溫老化測(cè)試房技術(shù)參數(shù)：

一、可選擇操作的溫度范圍 ： A：0℃； B：-20℃； C：-40℃； D：-70℃～＋80℃/100℃(可選擇任意低溫或者高溫做試驗(yàn)室的溫度范圍）

二、濕度范圍 ： 20～98％R.H或 30～95％R.H（相對(duì)溫濕度圖請(qǐng)參考報(bào)價(jià)方案）

三、波動(dòng)度 ： ≤±0.5℃；步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室均勻≤±2℃

四、試驗(yàn)室控制精度 ：溫度±0.2℃、濕度±2％R.H；

五、試驗(yàn)室溫度解析精度：0.01℃、試驗(yàn)室濕度解析精度：0.1%R.H

六、試驗(yàn)室溫度均勻度：±2℃；濕度均勻度：≤±3%R.H（+2、-3%RH）

七、溫度波動(dòng)度：±0.5℃ （空載時(shí)）

八、安全保護(hù)裝置：超溫保護(hù)，防干燒保護(hù)，無熔絲開關(guān)，缺水保護(hù)，液位保護(hù)，保險(xiǎn)絲，壓縮機(jī)超壓、過熱、過電流保護(hù)等眾保護(hù)裝置24小時(shí)保證設(shè)備的安全及穩(wěn)定性工作。

九、滿足與執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)如下：

GB/T10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

GB/T11158-2006高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

GB/T10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件;

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫；GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫；

GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)；GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db 交變濕熱（12h＋12h循環(huán)）

十、多年來，東莞市柳沁試驗(yàn)設(shè)備有限公司以成熟的設(shè)計(jì)及生產(chǎn)能力，高科技的制造工藝、豐富的組裝調(diào)試培訓(xùn)經(jīng)驗(yàn)和嚴(yán)格的質(zhì)量把控，為國(guó)內(nèi)廣大顧客設(shè)計(jì)并生產(chǎn)了300臺(tái)以上的步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室、步入式高低溫試驗(yàn)室、步入式高溫試驗(yàn)室、步入式高溫高濕試驗(yàn)室等各類大型環(huán)境試驗(yàn)室。技術(shù)指標(biāo)及運(yùn)行可靠性達(dá)到*的技術(shù)水平，造型美觀，現(xiàn)場(chǎng)安裝，服務(wù)完善、受到眾多顧客的贊譽(yù)和長(zhǎng)期合作的支持。

這些試驗(yàn)室的容積從2m3到100m3甚至更大的尺寸均可定做,溫度范圍從-70℃~+100℃的范圍內(nèi)可選擇任意一個(gè)溫度范圍,相對(duì)濕度從20%R.H~98%R.H.控制器從微芯片LED顯示器到PLC可編程邏輯控制儀觸摸屏顯示器，及遠(yuǎn)程集中控制系統(tǒng)。